Die Breiten-, Höhen-, Durchmesser Messsysteme µMETER-X von ELOVIS arbeiten auf Basis der berührungs­losen Kantenantastung quer zur Bewegungsrichtung des Messobjekts. Messobjekte sind z.B. Strangwaren, Bahn- und Bandwaren, Platten und Stückgüter. Die hochgenaue Messung im Quer-Lichttaster dient der Produktionsüberwachung sowie der Prozessoptimierung  und der Dokumentation des Aus­liefer­zustands der produzierten Ware. µMETER-X Systeme nutzen Auflicht- oder Durchlicht-Sensorik. µMETER-X Systeme sind wartungsfrei, dauerhaft kalibriert und messen weitgehend materialunabhängig. µMETER-X Systeme werden zur Quer­schnittmessung, Profilmessung, sowie zur Messung von Breiten, Höhen, Durchmessern … von Bändern, Profilen, Rohren, Platten, Balken, Bolzen, Rollen aus den unterschiedlichsten Materialien genutzt.